A Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV) é uma técnica de caracterização que utiliza feixes de elétrons para examinar superfícies de amostras em altíssima resolução. Diferente da microscopia óptica, que utiliza luz visível, a MEV proporciona imagens com ampliação muito superior, permitindo analisar estruturas da ordem de nanômetros.
Na MEV, o feixe de elétrons interage com a amostra, gerando diversos tipos de sinais, como elétrons secundários, retroespalhados e raios X, que são usados para formar imagens da superfície da amostra. Essa técnica é muito útil em diversas áreas, como materiais, biologia e nanotecnologia, devido à sua capacidade de examinar detalhes finos e morfologia das superfícies de amostras sólidas.
Além de fornecer imagens de alta resolução, a MEV pode ser combinada com espectroscopia de raios X para realizar análises elementares, como identificação de composição química e distribuição dos elementos na amostra.