A Microscopia Eletrônica de Transmissão (MET) é uma técnica avançada de caracterização utilizada para estudar amostras em escala nanométrica. Ao contrário da Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV), que analisa a superfície das amostras, a MET permite examinar as estruturas internas, transmitindo um feixe de elétrons através de uma amostra extremamente fina. A interação dos elétrons com a amostra gera uma imagem que pode alcançar resoluções atômicas, permitindo a visualização detalhada de materiais em nível subnanométrico.
A MET é particularmente valiosa para estudar a morfologia de materiais, como metais, semicondutores, e até células biológicas, além de ser crucial na análise de nanomateriais e estruturas atômicas. Combinada com espectroscopia, pode fornecer informações sobre a composição e as propriedades eletrônicas das amostras. A técnica é amplamente utilizada em áreas como nanotecnologia, biotecnologia, materiais avançados e ciências dos materiais.
<Espectroscopia de Fluorescência< >Microscopia Eletrônica de Varredura>