Difração de Raios X
A Difração de Raios X é uma técnica analítica usada para estudar a estrutura cristalina de materiais. Ela se baseia no princípio de que, quando um feixe de raios X incide sobre um cristal, ele é difratado, ou seja, desvia-se em vários ângulos devido à interação com os átomos organizados no cristal. A difração resultante gera um padrão de picos, cujas posições e intensidades fornecem informações cruciais sobre a disposição dos átomos no cristal, como distâncias interatômicas e simetrias da rede cristalina.
Essa técnica é amplamente utilizada em ciência de materiais, química, física, e biologia estrutural para determinar a estrutura molecular e atômica de substâncias, como proteínas, materiais semiconductores, ligas metálicas e minerais. A análise dos padrões de difração permite a identificação precisa de fases cristalinas, a determinação de tensões internas no material e a avaliação de defeitos na estrutura cristalina.